X線回折分析は、物質の結晶構造を調べるための非破壊的な分析手法です。X線を物質に照射し、その反射・回折パターンから結晶構造を解析することができます。この技術は、化学、物理学、材料科学、地質学、生物学、医学などの分野で広く用いられています。
X線回折分析の原理
X線回折分析では、X線を物質に照射すると、物質内の原子や分子がX線を散乱します。その際、散乱光の波長と散乱角度は、物質の結晶構造に依存します。具体的には、結晶格子の間隔や原子の位置がX線の波長と散乱角度に対応するように配列されているため、散乱光のパターンから結晶構造を解析することができます。
応用
この分析は、物質の結晶構造を解析するための主要な手法の1つであり、材料科学、医学、環境科学、地球科学などの分野で幅広く活用されています。たとえば、材料科学では、新しい材料の開発や材料の機能解析に利用されています。医学では、タンパク質の結晶構造を解析することで、薬剤開発に役立てられています。環境科学では、鉱物の結晶構造を調べることで、地球内部の構造や地震の発生メカニズムなどを解明する研究が行われています。
